DIATEST塞规式测量系统特有的导向体设计,保证了测量结果的可能性,解决了孔径测量的对中难题,限度减少了人为因素测量结果的影响,可方便、快速、准得出测量结果。
测头为非标定制,按图纸及使用要求加工制作!
测头结构
测头参数
1、手柄
测头形式:标准孔
2、显示装置
测量范围:+0.2mm
3、测针
重复精度:0.001mm
4、导向体
线性误差:1%测量行程
5、两瓣体
测点半径:4.5mm
6、测点
测头寿命:可达100万次
多种手柄选择,具有隔热功能避免手温影响测量结果
1.塞规式测量系统是直接测量吗?
答:比较法测量,需要配校对环规。使用校对环规进行零点校准,校对环规的尺寸与孔的***小尺寸相关,如此可以保在校准过程中大的减小的轴向和径向的误差。遵循DIN2250-C标准的环规是***适合的校对环规,较大尺寸的环规或***小尺寸、中间尺寸和尺寸的校对环规通常是不需要的。
2.塞规式测量仪的测量范围是多少?
塞规式测量仪的测量范围适用于2.0mm-330mm,但是并不是说个测头就可以适用这么大的范围。塞规式测头是对的,例如您测量10mm,那您就需要选择个10mm的测头测量,单个测头的标准测量范围根据具体尺寸会有不同:2.0-9.0mm(4系列)的测量范围是0.1mm、7.0-20.0mm(6系列)的测量范围是0.15mm,20-330mm(10系列)的测量范围是0.2mm。
3.测量范围是固定的吗?
4.选择测头尺寸时,怎样保选择尺寸的正性,能保证肯定满足测量吗?
选择测头尺寸时,请您提供工件的公差带及孔的形式。测头的尺寸是按照公差带的下限选定的。具体生产的测头尺寸会按照您公差带下限进行加工,加工时的公差带都是减公差,保证测头能放到工件内进行测量。
5.塞规式测量仪测头的形式如何选择?
塞规式测头般分为标准孔测头、通孔测头和盲孔测头。您可以根据要测量孔的深度来定塞规头的形式,如果要测量位置非常靠近根部,可以选用盲孔测头;如果是盲孔,但是不要求测点位置很低,那标准测头就可以满足要求;如果要测量通孔的孔口位置,选用通孔测头。根据测量需求的不同,我们还有其他形式的测头,如加长导向体测头、自动测量用测头等。
6.塞规式测头的测点是什么材质的?
如无特殊说明,塞规式测头的测点是硬质合金材质的。根据测量工件的材质不同,我们可以提供陶瓷测点、红宝石测点、钻石测头、塑料测点等等以满足客户的不同测量需求。
7.塞规式测量仪需要其他附件吗?
塞规式测量仪的标准构成是手柄、显示表、塞规式测头和校对环规。根据客户测量需要和环境的不同,我们可以提供标准附件延长杆以加大测量深度、也可以提供深度限位实现方便测量。同时我们也有电子手柄可以接传感器,可以实现台式测量等。塞规式测量仪的柔性很好,可以满足不同的测量需求。
8.测量数据可以传输给电脑吗?
可以。该系统可以通过有线或无线两种方式把测量数据传输给计算机、电子柱、电箱、Metro的M3显示仪及其它显示装置,并生成SPC图形。
导向体根据被测工件制定是BMD测头的精度来源。
测量结果准可靠不受人为因素影响
可提供刻字服务如客户的特定ID号、公差等
更新时间:2024/3/28 14:59:41
第8年